球差电镜测试提供FIB,双喷减薄等制样服务视频

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遇琰琬 2025-08-10 数码 5 次浏览 0个评论

15 内标法应用采用已知晶格样品如金颗粒在相同电镜状态下,通过测量相机长度,利用电镜基本公式计算相机常数,以供后续实验使用16 软件模拟菊池图JEMS软件支持模拟菊池图,通过选中相应选项即可实现17 金属样品制备包括金属切片砂纸打磨冲圆片凹坑研磨双喷电解和离子减薄FIB制样等步骤18 四氧化锇使。

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内标法使用已知晶格样品如金颗粒,在相同电镜状态下,对应不同相机长度,通过电镜基本公式计算出一组相机常数,以便后续测试中使用JEMS软件可以用于模拟菊池图金属样品的制样包括金属切片砂纸打磨冲圆片凹坑研磨双喷电解和离子减薄FIB制样等方法四氧化锇溶液对弹性体进行染色,并使塑料硬。

TEM测试对样品有以下几点要求 粉末液体样品均可,固体样品太大了的需要离子减薄双喷FIB切片制样样品必须很薄,使电子束能够穿透,一般厚度为100~200nm左右样品需置于直径为2~3mm的铜制载网上,网上附有支持膜样品应有足够的强度和稳定性,在电子线照射下不至于损坏或发生变化样品及其。

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